Die Bundesbehörden
der Schweizerischen Eidgenossenschaft

231.21

Verordnung
über den Schutz von Topographien
von Halbleitererzeugnissen

(Topographienverordnung, ToV)

vom 26. April 1993 (Stand am 1. Juli 2007)

Der Schweizerische Bundesrat,

gestützt auf die Artikel 2 Absatz 2, 12 und 18 des Topographiengesetzes vom 9. Oktober 19921 (ToG) und auf Artikel 13 des Bundesgesetzes vom 24. März 19952 über Statut und Aufgaben des Eidgenössischen Instituts für Geistiges Eigentum (IGEG),3

verordnet:

1. Abschnitt: Allgemeine Bestimmungen

Art. 1 Zuständigkeit

Art. 2 Sprache

Art. 2a Unterschrift

Art. 2b Elektronische Kommunikation

Art. 3 Gebühren

2. Abschnitt: Anmeldeverfahren

Art. 4 Mehrere Anmelder und Anmelderinnen

Art. 5 Unterlagen zur Identifizierung

Art. 6 Unvollständige Anmeldung

3. Abschnitt: Das Topographienregister

Art. 7 Registerinhalt

Art. 8 Aktenheft

Art. 9 Fabrikations- oder Geschäftsgeheimnis

Art. 10 Bescheinigung

Art. 11 Veröffentlichung

Art. 12 Änderung und Löschung von Einträgen

Art. 13 Berichtigung

Art. 14 Registerauszüge

Art. 15 Aufbewahrung und Rückgabe

4. Abschnitt: Hilfeleistung der Zollverwaltung

Art. 16 Bereich

Art. 17 Antrag auf Hilfeleistung

Art. 18 Zurückbehalten von Halbleitererzeugnissen

Art. 18a Proben oder Muster

Art. 18b Wahrung von Fabrikations- und Geschäftsgeheimnissen

Art. 18c Aufbewahrung von Beweismitteln bei Vernichtung der Halbleitererzeugnisse

Art. 19 Gebühren

5. Abschnitt: Inkrafttreten

Art. 20

AS 1993 1834

1 SR 231.2
2 SR 172.010.31
3 Fassung gemäss Ziff. I der V vom 25. Okt. 1995, in Kraft seit 1. Jan. 1996 (AS 1995 5156).

Stand am 1. Juli 2007
Für Anregungen und Mitteilungen: Kompetenzzentrum Amtliche Veröffentlichungen